Scanning Electron Microscopy (SEM)

Leistungsgegenstand

Worum geht es?

Das Institut für Physik und Materialwissenschaften der BOKU Wien plant die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) für den Einsatz in ultra-hochzyklischen Ermüdungstests (UHF). Damit verbunden sind variable Umgebungsbedingungen für Proben zu betreiben, einschließlich Hochvakuum, Niedrigvakuum (bis zu 2600 Pa H₂O oder 4000 Pa N₂). Hohe Auflösung (z. B. 1.0 nm bei 30 kV SE in Hochvakuum und 1.3 nm bei 30 kV SE im Niedrigvakuum oder ESEM-Modus). Zusatzfunktionen sind insbesondere Niedrigvakuummodus, SE, BSE, EDX, EBSD, Kammergröße). Adaptierungsmöglichkeiten der Kammer sowie deren Türe, um den speziellen Anforderungen für die Durchführung der UHF-Probenaufbauten gerecht zu werden

• Labor- und Präzisionsgeräte38000000

Zeit & Verfahren

Veröffentlichung

20. Juni 2025

Abgabe

—

Verfahrensart

Verhandlungsverfahren mit Bekanntmachung · Lieferung

Erfüllungsort

Wien