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VergebenAktenzeichen 4510232838

FX40 Complete AFM System

Veröffentlicht
zuletzt geprüft 30.09.2026, 13:23
Angebotsfrist
Nicht veröffentlichtlaut amtlicher Bekanntmachung

Leistungsgegenstand

Worum geht es?

Komplettes Rasterkraftmikroskop-System für kleine und mittelgroße Proben, bestehend aus einem biegungsgeführten XY-Scanner, einem Standard-FX-AFM-Kopf mit entkoppeltem, biegungsgeführtem Z-Scanner, einem Multi-Snap-In-Probenhalter, einem motorisierten XY-Tisch, einem motorisierten Z-Tisch, einem automatischen Sondenwechsler, einem motorisierten Optik-Tisch, einem motorisierten Fokustisch, einer direkt auf der Achse angeordneten Optik, Park AFM-Controller.

  • Labor- und Präzisionsgeräte38514200

Zeit & Verfahren

Veröffentlichung
30. Sep. 2026
Abgabe
—
Verfahrensart
Lieferung
Erfüllungsort
Nicht strukturiert veröffentlicht

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