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Frist beendet

3D-Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopis bestehend aus einem FEG SEM, FIB, EDX, EBSD und optionalem TOF-SIMS

Veröffentlicht
zuletzt geprüft 17.09.2026, 02:20
Angebotsfrist
laut amtlicher Bekanntmachung

Leistungsgegenstand

Worum geht es?

Diese Beschaffung umfasst ein höchstauflösendes Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie-System mit EDX- und EBSD-System mit optionalem TOF-SIMS, welche im Bereich der elektronenmikroskopischen Charakterisierung von metallischen, und keramischen Werkstoffsystemen sowie im Bereich der Mikroelektronik (Bulkmaterialien, dünne Schichten, sowohl polykristalline als auch monokristalline Werkstoffe (hier vorrangig beschichtete Si-Wafer) eingesetzt werden soll

  • Labor- und Präzisionsgeräte38511100

Zeit & Verfahren

Veröffentlichung
19. Sep. 2022
Abgabe
14. Okt. 2022
Verfahrensart
Verhandlungsverfahren mit Bekanntmachung · Lieferung
Erfüllungsort
Nicht strukturiert veröffentlicht

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